《科技》首爾SEMICON,愛德萬測試秀最新解決方案

2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea今(8)日起至10日於首爾COEX會展中心舉行,

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,半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)將透過實際操作及數位圖像說明,

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,展示各式SoC與記憶體系統測試解決方案,

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,並為今晚歡迎晚宴的白金級贊助商。愛德萬測試指出,

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,此次將展示專為韓國市場設計的最新測試解決方案,

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,和已通過嚴謹測試的產品。主打產品與服務包括領先業界的測試與測量平台、能有效提升效能的模組和通道卡、電子束光刻與計量掃描式電子顯微鏡系統、性能測試用基板、燒機測試基板和探針卡。而韓國愛德萬測試SoC部門主任Jeongseob Kim亦將在明(9)日的測試論壇中,

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,發表「於ATE系統測試IoT模組的挑戰」技術論文。與會貴賓將可透過現場展示、數位圖像及深入的演講內容,

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,進一步了解愛德萬測試的技術內涵,以及最新發表的創新IC測試技術。(時報資訊),

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